Zuschlag
Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P
Den Zuschlag für „Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P“ hat TESCAN GmbH erhalten, zusammen mit 1 weiteren Bietern. Vergeben hat ihn Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 im Verhandlungsverfahren mit Teilnahmewettbewerb; bekannt gemacht am 10.12.2025. Einen Auftragswert nennt die Bekanntmachung nicht.
| Zuschlag an | TESCAN GmbH |
|---|---|
| Weitere Zuschlagsempfänger | Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH |
| Auftragswert | nicht veröffentlicht |
| Vergabestelle | Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 |
| Verfahren | Verhandlungsverfahren mit Teilnahmewettbewerb |
| Leistungsart | Lieferleistung |
| Leistung nach CPV | 38511100 Rasterelektronenmikroskope |
| Zuschlagsentscheidung | nicht veröffentlicht |
| Bekanntmachung des Zuschlags | 10.12.2025 |
Einordnung
- TESCAN GmbH hat in den letzten 18 Monaten 12 Zuschläge auf TED erhalten.
Weitere Zuschläge an TESCAN GmbH
| Veröffentlicht | Auftrag | Wert |
|---|---|---|
| 21.10.2026 | Rasterelektronenmikroskop | 243.746 Euro |
| 01.10.2026 | 60236/Rasterelektronenmikroskop Starke | 309.813 Euro |
| 25.09.2026 | Röntgen-Spektroskops (WDX/WDS) | – |
| 14.09.2026 | Wartung Tescan Tensor NanoSpace/NanoCryo und NanoSpace/Nano-Jul | 216.000 Euro |
| 20.08.2026 | FIB REM | – |
| 13.07.2026 | Dual Beam | – |
Alle öffentlichen Aufträge von TESCAN GmbH
Wer bei dieser Leistung gewinnt
- Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH 6
- FEI Deutschland GmbH 4
- TESCAN GmbH 3
- JEOL (Germany) GmbH 3
- Tescan GmbH 1
- point electronic GmbH 1
- Hitachi High-Tech Europe GmbH 1
- Thermo Fisher Scientific GmbH 1
- Thermo Fisher Scientific, FEI Deutschland GmbH 1
- Evident Europe GmbH 1
Gleiche CPV-Gruppe (38511…), letzte 18 Monate.
Jetzt offen: vergleichbare Ausschreibungen
- in situ Rasterelektronenmikroskop (in situ SEM)
Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Bayreuth
EU-weit · Bayern · Offenes VerfahrenFrist 2026-11-27, noch 26 Tage
Kurz beantwortet
Wer hat den Zuschlag erhalten?
TESCAN GmbH und 1 weitere Bieter.
Wie hoch war der Auftragswert?
Die Bekanntmachung nennt keinen Auftragswert; das ist bei rund der Hälfte der Zuschläge so.
Kann ein unterlegener Bieter den Zuschlag angreifen?
Der Weg führt über die Vergabekammer, und er ist kurz: zwischen der Information der unterlegenen Bieter nach § 134 GWB und dem Vertragsschluss liegt nur eine Wartefrist. Danach bleibt der Zuschlag in aller Regel bestehen.
Wo finde ich vergleichbare offene Ausschreibungen?
Unter „Jetzt offen“ weiter unten.
(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein.
Quellen
- Zuschlagsbekanntmachung: TED, Amtsblatt der Europäischen Union
- Leistungsbezeichnungen: CPV 2008, Verordnung (EG) Nr. 213/2008
Zitieren: „Zuschlag: Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P“, Neurobird Ausschreibungen, https://neurobird.com/de/ausschreibungen/zuschlag/precise-ion-beam-based-trenching-tool-imws-03-2-high-performance-ga-fib-z819847-2025, Stand 01.11.2026.